急速に進化する半導体業界において、検査技術の高度化は不可欠です。
中でも、ウエーハテストに使用されるプローブカードは、微細化・高集積化に伴い、その重要性がますます高まっています。

今回は、韓国に本拠を構えるPRO-L社の研磨を含む加工技術と製品の特長に迫ります。

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企業概要:信頼と実績を持つプローブカード専業メーカー

PRO-L社は、プローブカードおよび関連測定装置の設計・製造を手がける韓国企業です。ファインピッチ領域(最小12μm)にも対応可能な高密度プローブ技術を保有しており、国内外の主要な半導体メーカーやパネルメーカーから高い評価を得ています。

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主力製品群は以下の通りです:

  • Blade Type / COF / Bump Film Type
  • Pogo Pin Type
  • FPC・PCB用 Probe Unit
  • Probe Card・Manual Prober・Auto Probe Station
  • Probe特性評価装置(PIS)シリーズ

技術力:12μm対応のファインピッチ、多彩なニードル素材に対応

PRO-L社のプローブカードは、メモリ・ロジックICだけでなく、OLED、LCD、FPC、PCB、LEDテストにも幅広く対応しています。以下の特長が挙げられます:

  • ファインピッチ対応:最小ピッチ12μm(実用レベルでは30μm~)
  • 多様なニードル素材:WNP、BeCu、Pd合金、Pt合金など
  • 接触信頼性を支えるEpoxy設計:標準タイプ~高耐熱タイプまで
  • 高耐久性と微小接点対応:最大で数十万回の接触にも対応

これらの技術により、チップレベルからセルレベルまでの幅広い工程で、安定した検査品質が実現されています。

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製品ラインナップ:あらゆるテストニーズに対応する柔軟性

PRO-L社では、テスト対象やライン条件に応じて様々な構造を提供しています。

▼ プローブカード製品例

タイプ 主な用途 特長
Blade Type OLED / LCDセル検査 高ピン数・高密度対応
Bump Film Type COF / Chip on Film 接触安定性・繰返精度に優れる
Pogo Pin Type パネル・基板検査 弾性接触によりクッション性あり
COF Film Type フレキシブル基板検査 フィルム一体構造で安定測定

また、用途別にマニュアルプローバー・セミオートプローバー・フルオートステーションまでを自社で開発・提供しており、装置と治具のトータルサポートが可能です。

測定ソリューション:PIS(Probe Inspection System)の特性評価装置

PRO-L社のもう一つの強みが、プローブ特性評価装置の自社開発です。 「PIS:Probe Inspection System」は、以下のような特性測定を一括で実行可能な装置です:

  • ピン荷重測定(Load Cell)
  • 接触抵抗(CCC)測定
  • スクリューブマーク観察
  • Tip破壊/Shear試験
  • 温調環境での繰返し測定

UIも視覚的に優れ、測定値のトレースや履歴管理に適した設計となっています。

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グローバル需要に応える開発姿勢

回路の微細化・狭ピッチ化が進む中、プローブカードには以下のような新しいニーズが生まれています:

  • 狭ピッチへの適合(20μm以下)
  • 高温環境での安定検査
  • 機械的負荷の低減と高繰返性能の両立
  • 微細スクラブ評価への対応

PRO-L社では、こうした要件に対応するため、材料開発や評価工程の高度化にも注力しており、今後の次世代半導体・パワーデバイス検査への展開にも期待が寄せられています。

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研磨シートメーカーとの関係性(補足)

国内においても、PRO-L社と連携して例えばプローブカード用クリーニングシートの特性評価を共同実施しており、シート材の耐久性や除去性能測定で関係を持っています。最大10,000回のアップダウン試験でのクリーニング安定性能を確認したり、特殊な評価が首社で可能となっています。

まとめ:アジア発、プローブ技術の最前線をリードする企業

韓国のPRO-L社は、プローブカードの設計から製造、評価までを一貫して手がける数少ない専門メーカーの一つです。その高密度対応・評価精度・カスタム提案力は、急速に進化する半導体業界において確かな信頼を築いています。

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高精度な接点を支える技術は、これからのAI、5G、パワー半導体の信頼性を担保するインフラそのものです。 今後も同社の動向から目が離せません。

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